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TCi Thermal Conductivity Analyzer
簡單描述
導熱係數(k)分析儀
相關參數
詳細介紹

 

 

   機能性  

TCiTM Thermal Conductivity Analyzer 


瞬間涼感、導熱係數(k)分析儀


 

 


產品介紹


  • C-Therm的TCi導熱係數分析儀採用改良瞬態平面熱源法(MTPS)專利技術。單面的介面熱傳感器(探頭),像樣品表面施加一個瞬時恆定熱源,可以直接測量材料的導熱係數和蓄熱係數,進而為樣品的熱物性提供詳細的描述。
  • 應用範圍廣泛,可用於:固體、粉末、膠體、液體
  • 符合ASTM D7984標準


使用方法
  1. 施加以之電流到探頭發熱線圈上,向受測樣品提供一股小熱量
  2. 受專利保護的Guard Ring技術,保證熱量沿著徑向單向傳遞到受測樣品,熱量使得樣品與探頭接觸面間的溫度上升,在探頭上產生電壓降。
  3. 由探頭的電壓變化來監測溫度的上升,並確定樣品的熱物理性質。導熱係數的大小與探頭電壓(或溫度)上升速率成反比。低傳導性材料(如:泡沫)的電壓上升曲線斜率會更大,導熱能力強的材料(如:金屬)電壓上升曲線更平緩


技術規格



導熱係數測量範圍:

0-500 W/mK

測量時間:

0.3-8 sec
樣品尺寸: 17mm以上,最大不限 
樣品厚度
 0.5mm以上,最大不限
測試方法  改良瞬態平面熱源法(MTPS)

 
符合標準 ASTM D7984
溫溫度範圍  -50oC-200oC 可拓展至500oC
重複性 優於1%
準確性 優於5%
品質認證
FCC, CE, CSA



 




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